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本文标题："微量杂质对再结晶金属断口分析显微镜"
新闻来源：未知 发布时间：2020-3-10 1:13:48 本站主页地址：http://www.jiance17.com
微量杂质对再结晶金属断口分析显微镜
织构受多种变最的影响:合金成分,最终退火以前的机械历程和热学
历程,退火时的热学历程(有时甚至退火时的气氛),加工和退火工序中
各个阶段的晶粒尺寸,以及是否有生核剂等。退火织枃的形成涉及到几
种基本机理。退火织构可以由回复造成,而不必进行再结晶再结晶以后
,有可能再现退火前的织构):可以由初次再结晶造成;也可以由再结晶
以后的晶粒长大造成。晶粒长大,有的是“正常的”、“连续的”长大
,即晶粒尺寸的分布在整个长大过程中都保持正常状态,也有的是少量
晶粒长得很大,而其余的晶粒则大小不变,而最终被大晶粒吞蚀。后一
类型的晶粒长大过程,称为“不连续的”、“异常的”或“反常的”长
大,又称为“粗化”、“荫生”或“二次再结晶”。这种过程是在正常
晶粒长大受到弥散质点或强织构的阻碍时发生的。一般讲,退火织构可
以认为是由回复、初次再结晶和晶粒长大(正常的或反常的)这三者相
互竞争的取胜者造成的。但有时不止一种过程对最终织构发生影响。
为理解退火织构所作的努力,主要是研究成长为再结晶晶粒的那些
晶核的位向、位置和本质,以及控制晶核向基体材料中成长的因素。基
体材料是冷加工或回复后的,有时是已经再结晶的晶粒。在各种实验中
不同程度涉及到的因素是如此之多,并且彼此之间还有相互作用,所以
出现下述情况是不足为奇的;在这一领域的研究历程中,曾提出一些互
不相容的见解;所提出的理论经常是建立在未经证实或有争论的假设之
上的,或者是看来仅仅在严格限制的条件下适用的再结晶线材和压缩试
样许多有关退火引起丝织梅转变的实验,没有分辨再结晶织构与退火后
由晶粒长大所造成的织构。某些微量杂质对再结晶温度有强烈的影响,
所以金属在某一温度进行再结晶的机理,可能与试样的纯度有关。
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