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本文标题："应当用一个电灯泡与待侧电容器-电路检测显微镜"
新闻来源：未知 发布时间：2014-6-6 22:46:10 本站主页地址：http://www.jiance17.com
应当用一个电灯泡与待侧电容器-电路检测显微镜
介质击穿介质击穿可能由过压或对介质造成损伤的制造缺陷引起。电解电容
器制造缺陷如果有的话，那也很少能加以证明，因为证据在故障过程中不可避免地会
遭到破坏。介质击穿引起电容器两个端子之间的电流不受控制地流动，从而导致过大
的功率耗散且可能发生爆炸。识别介质击穿的电容器通常很容易看出，因为这类故障
是典型的爆炸现象，用肉眼能明显看见。测试可疑电容器时，要想给故障电容器加电
而不引起突发故障，应当用一个电灯泡与待侧电容器串联，以防止电抓能量进人故障
电容器。采用这种方法测盘漏泄电流更加安全。
电容损失当有电解质损失时就会发生电容损失。当电解电容器的密封外壳
存在泄漏时，通常便发生电解质损失。由于正常的环境过程，经过一段时间密封便
可能出现泄漏。通常，某些清洗溶剂、温度升高、振动或制造缺陷都会加速密封性能
变坏。电解质损失的典型结果是电容损失，等效串联电阻增大，以及功率耗散相应
增大。
开路当电容器内部的连接端子性能变差及失效时，通常便发生开路。电连接性
能变差的产生可由于腐蚀、振动或机械应力作用的结果，可能损伤电连接。开路故障
的结果是电容损失。
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