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本文标题："矿物截面显微颗粒分析可以用岩石显微镜测量"
新闻来源：未知 发布时间：2014-8-4 20:01:32 本站主页地址：http://www.jiance17.com
矿物截面显微颗粒分析可以用岩石显微镜测量
单粒矿物除了容易作光学和X射线鉴定外，其主要优点
是各种研究矿物的技术，如旋转针、X射线、离子探针、电
子探针、扫描电镜和扫描透射电镜等，都可用到矿物的同
一个颗粒上，这样就可准确地了解具有特定微最元素组成
的某一矿物所具有的各种性质。
两面抛光薄片中的矿物也可以用岩石显微镜、扫描电镜、
电子探针和扫描透射电镜来研究，但是用单粒矿物的最大优点，
就在于能快速准确地作出鉴定，同时能获得比重和单晶X射线等
方面的资料。
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