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本文标题："高倍光学显微镜下研究矿物的解理特征"
新闻来源：未知 发布时间：2015-4-21 20:07:02 本站主页地址：http://www.jiance17.com
高倍光学显微镜下研究矿物的解理特征
用于光学研究和解理碎片法
与矿物颗粒法相比，解理碎片法具有一定的潜在优势，用
理碎片法可研究较大的样品，因而能对样品中不同包裹体组
合和结晶方位之间的关系进行研究，然而即使矿物的解理异
常发育（方解石），在高倍显微镜下观时，也往往表现出不
平整表面的特点，从而掩盖了下伏的包裹体，需要用浸油来
消除这些影响，因此，解理碎片法的价值是有限的。
测温分析所需抛光片的制备
两面抛光的矿物薄片是成功在进行包裹体测温研究的关键
，标准的矿石抛光工艺可以很容易地改成流体包裹体抛光薄
片的制作工艺，片子高质量两面抛光比平行和平整表面更重
要，不过我们总是应该力争把这两方面都搞好，抛光片的最
终厚度取决于包裹体的大小和丰度以及矿物的透明度，
大多数样品厚度要求介于0.2和0.5mm之间，但是如果样品不
透明或半透明，则需要制备很薄的（约0.1mm）抛光片，厚
度大于2mm是不允许的，因为这会影响设计的冷-热两用台的
操作。
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