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本文标题："用电阻率测量确定纯度使用显微镜观察微观结构"
新闻来源：未知 发布时间：2015-5-3 20:39:28 本站主页地址：http://www.jiance17.com
微观结构可以被分为随机取向的或部分取向的几类，取
向度可由所测得的定量参数计算出来。如果存在两个或三个
取向轴的话，可重复最初所用的单一取向轴描述的步骤
高纯金属的质语和其它分析方法
采用的质谱术和放射性分析一样能灵敏、准确、经
济地分析纯金属。可以用一个钨或担灯丝，被研究的溶液蒸
着在灯丝上，此钨或担灯丝就作为离子源。利用同位素稀释
法就是这样测定了铝中的微量锂.这样的方法需要很多的试
验，并有来自试剂的污染危险.
一个更常用的技术是利用真空火花使大块样品蒸发和电
离.它大大减小了污染的危险并能快速和灵敏地测定未知样
品中的许多杂质。即使还有某些标准化的问题，这个方法用
得愈来愈多了.将结果与放射性分析的那些结果相比较符合
得很好.但在低浓度范围观察到某些偏差
用电阻率测量确定纯度
样品的完全分析书要很长的操作，并且不能保证测定了
所有存在的杂质.电阻率测量是一个有意义的分析方法，它
能快速给出所含杂质的总量.
作为一级近似，可以假定纯金属的电阻率是两项之和.
第一项(理想电应率)仅依赖于温度，是由导电电子被点阵
热激发波散射引起的。第二项(残留电阻率)与温度无关，
是由点阵缺陷引起的.在低温下第二项将占优势，电阻率对
化学类型缺陷(杂质)或物理类型缺陷(点阵缺陷)将很敏
感。例如对于一个含有少数点阵缺陷的样品，低温电阻率将
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