动态测试来进行故障点定位时,有几点要注意!

新闻来源:未知 发布时间:2012-5-9 22:11:24 本站主页地址:http://www.jiance17.com

动态测试来进行故障点定位时,有几点要注意

故障分析实验室需有客户可采用之测试机台。一般来讲,故障分析的案件大部分皆是DC failure,只要有probe station与针座就可提供此服务,但是遇到function failure时,就需要logic或memory tester,但故障分析实验室经营的重点毕竟还是在问题解析或物性故障现象的发掘上,跟测试相关的大型测试机台,尤其是那种量产的测试机台,故障分析实验室基于使用率与成本考量,是不会愿意花大笔钱去添购这种设备,因此,要拥有此类测试机台可能需要仰赖测试部门或测试公司的提供,或去买比较便宜的二手货才有可能,比如LSI, P8, MOSAID, IMS或SC312等等。

可用简易的设备来达成进入function测试项的目的。如果故障的vector不是那么地複杂,可以用简单的指令就可进入的话,我们可以试着把晶片做在PCB板(COB, Chip on Board)或放至socket上,甚至直接拿量产的module来使用,藉着电脑程式给予的信号或给偏压的顺序,来进入故障的pattern。

若是与PEM连结的测试机台不是客户所惯用,客户需有能力撰写适用于此机型的测试程式。

做PEM亮点观察时所需要用的故障测试项可以以较简单或较方便的测试项来代替,只要替代的测试项和原有的测试项的电性意义是一样,可以反映出缺陷所造成的现象即可,不一定要执着于修改较複杂的原程式。

即使是利用原程式来抓PEM亮点,原程式仍需修改以使程式跑到故障vector后,stuck在此pattern。

量产产品中,造成function fail的故障原因,又可照出亮点者,大部分是前制程漏电(leakage)所造成,且亮点即为缺陷所在,极少部份则是高阻值或断路现象,且亮点有可能不在缺陷位置上。

如果PEM旁真的无法架设测试机台时,可以考虑使用可携式PEM(portable PEM),它是一个小型的Si Cooled CCD PEM,可拆卸及组装于测试机台上,移动方便就是它最大的优点,至于低侦测率则是它最大的问题。

理论上,此方法也可应用在LCD技术上,但温度的掌控与probe card探针上沾黏的有毒液晶的清洗需要小心。

尽管通常故障分析的案件是以DC failure为主,但万一碰到了function failure而无法用一般的FA方法去解决时,思考其它的FA solutions便成为极需去做的脑力激盪,而与PEM相连结则是可行且常用的技巧之一,此法也可运用在新产品的设计debug上,也就是从亮点的产生位置来判断电路运作是否正常。











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