---
---
---(点击查看产品报价)
本文标题："高分辨的电子显微影像测量分析仪器-显微镜常识"
新闻来源：未知 发布时间：2013-7-22 0:57:34 本站主页地址：http://www.jiance17.com
高分辨的电子显微影像测量分析仪器-显微镜常识
温高低对低剂差排环的效应较小，温区间间隔需较大才可看出有明显变化。
由于单晶碳化矽含加工制造缺陷，无法提供空孔有之成核点，因此在所有条件下皆未发现空孔
的存在。差排环的型态，目前推是由格隙原子团聚，而造成之Frank 型多一排
原子之差排环。高分辨之电子显微影像显示某些区域极有可能符合以上推，但
在未超出影像范围区域无法显示完整差排环的端，因此此部分仍须努。未
研究将进高温以及高剂之照射实验，以解差排环是否会在6H 碳化矽
结构下演化为差排网或其他缺陷型态，并深入探讨其机制
所有资料用于交流学习之用，如有版权问题请联系，禁止复制,转载注明地址
上海光学仪器一厂-专业显微镜制造商 提供最合理的显微镜价格
合作站点：http://www.sgaaa.com/显微镜百科