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本文标题："随着不同AFM显微镜技术的发展-表面粗糙度测试"
新闻来源：未知 发布时间：2014-7-12 4:41:05 本站主页地址：http://www.jiance17.com
随着不同AFM显微镜技术的发展-表面粗糙度测试
原子力显微技术(AFM)是建立在图像技术基础上的，主要用于表征材料的表面
形貌。
随着不同AFM技术的发展，它能同时包含物理和化学信息，例如，导电一AFM，开尔
文探针显微技术(KPFM).非接触式扫描显微技术(NC一SFM )等。AFM可以提供在理
想条件下的横向及纵向人数量级分辨率.在获得形貌的同时，八FM还可以给出相图，这
个相图对应表面的物理性质，也可以对应化学性质对比。但八FM技术有明显的不足，即
受到分析范围和非常缓慢的采集时间的限制.在()PV研究中，AFM主要用于研究如何
获得本体异质结活性层的最佳纳米结构(溶剂选择、热退火处理方法和混合比例等)，从而
提高OPV效率[5-8)0 AFM对稳定性和衰减的研究仅限于支持其他研究方法得到的
结论。
Motaung等利用AFM相图以及表面粗糙度测试
表明其表面粗糙度的增加，以及大颗粒C60的形成)，并结合其他技术来研究热退火处理过程
中，P3HT:嘶复合薄膜的热降解过程。可以发现，随着热退火处理时间的改变，薄膜的
形貌也随之改变，即随着场过度生长，使得表面粗糙程度增加，最终导致P31hT，C60太
阳电池效率的降低。
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