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本文标题:"二维光电探测技术-高精度星体测量常识"

新闻来源:未知 发布时间:2017-4-27 21:59:04 本站主页地址:http://www.jiance17.com

二维光电探测技术-高精度星体测量常识

    天体在天球上的几何坐标与其成像在芯片上的量度坐标之
间的转换,仍采用照相天体测量的那套方法。照相天体测量中,多
年来形成的一套成熟的方法是:在几何坐标与量度坐标之间借助于
理想坐标来过渡,即先将参考星的几何坐标换算成理想坐标,与这
些星的量度坐标组合求解出底片常数,用于将待测星的量度坐标换
算成理想坐标,最后得到待测星的几何坐标。在这过程中,把量度
坐标系与理想坐标系之间坐标原点和坐标轴指向的差异、各种畸变
和较差改正的影响等,都归入底片常数中求解出来,一般情况下,
可用的参考星数量限制了底片常数的数目,即限制了底片模型的完
整性

天文底片不仅用于记录和测量天象,在天体物理中也作为一种重要
的二维辐射探测器进行测光和光谱工作。在这些测量中.必须精确
测定底片的特性曲线,以便通过测定底片密度来确定照度,进而求
得天体的光度变化。
    虽然照相方法在某些方面已不能满足目前高精度天体测量的要
求,但它依然保持着信息量大和成本低等等优势。不过由于近年新
兴的二维光电探测技术发展很快,照相底片的使用范围正逐渐减小

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